Напівпровідниковий
перетворювач теплової енергії навколишнього середовища h2>
Анатолій Зерно p>
Проблема
сучасної енергетики полягає в тому, що виробництво електроенергії --
джерело матеріальних благ людини знаходиться в згубний протистоянні з
його середовищем існування - природою і як результат цього - неминучість
екологічної катастрофи. p>
Пошук і
відкриття альтернативних екологічно чистих способів отримання електроенергії --
актуальне завдання людства. p>
Одним з
джерел енергії, є природна навколишнє середовище: повітря атмосфери, води
морів і океанів, які містять величезну кількість теплової енергії,
одержуваної від Сонця. p>
Розглянемо для
приклад ізольований кристал власного напівпровідника, який легувати
(див. рис.1) донорно домішкою вздовж осі X за експоненціальним закону p>
nД (x) = f
(ekx). p>
p>
Рис. 1.
Кристал напівпровідника легування донорно домішкою p>
Ліва частина
кристала (X0) легується до такої концентрації Nдмакс,
щоб рівень Фермі знаходився біля дна зони провідності напівпровідника, а права
частина кристала (XК) легується до мінімально можливої концентрації
Nдмін, щоб рівень Фермі знаходився посередині забороненої зони
напівпровідника, при заданій температурі. p>
Основними
носіями заряду, в даному випадку, є електрони (n). p>
Для простоти
міркувань, неосновними носіями - дірками (р) нехтуємо через малу їх
концентрації. p>
У деякий
умовний початковий момент, коли закон розподілу концентрації електронів
співпадає з законом розподілу донорно домішки (n = nД), кристал
в цілому є електрично нейтральним і в кожному його елементарному обсязі
виконується умова np = ni2, а вздовж осі X існує
позитивний градієнт концентрації (див. рис.2) основних носіїв - електронів
dn/dx> 0. p>
p>
Рис. 2. Закон
розподілу концентрації основних носіїв в кристалі p>
Під дією
сил теплового руху і в результаті наявності градієнта концентрації, електрони
починають дифундувати в кристалі вздовж осі X з області високої їх
концентрації (X0) в область низької концентрації (XК), в
результаті - електронейтральності кристала порушується. p>
Електрони,
рухаються зліва направо, залишають після себе позитивно заряджені іони
донорно домішки nД +. p>
Ці іони,
жорстко пов'язані з кристалічними гратами напівпровідника, утворюють в лівій
частини кристала нерухомий позитивний об'ємний заряд, а електрони,
перейшли в праву частину кристала, утворюють негативний об'ємний заряд
рівної величини, в результаті чого в об'ємі кристала напівпровідника уздовж осі
X утворюється однаковий за величиною електричне поле Eх (див.
рис.3). p>
p>
Рис. 3.
Розподіл об'ємних зарядів у кристалі p>
Сили
електричного поля будуть прагнути повертати електрони в ту область
кристала, звідки вони дифундувати. Ті електрони, енергія яких
недостатня для подолання сил електричного поля, будуть повертатися --
дрейфувати в електричному полі в напрямку, протилежному процесу
дифузії. p>
Таким чином,
в кристалі напівпровідника вздовж осі X течуть дві зустрічно спрямованих струму: Jдіф.
- Струм дифузії, Jдр. - Струм дрейфу. P>
У процесі
освіти електричного поля в кристалі в бік збільшення його
напруженості, дифузійний струм зменшується внаслідок зниження градієнта
концентрації електронів, а дрейфовий струм збільшується за рахунок збільшення
кількості електронів, що повертаються зростаючим полем у зворотний бік, що в
кінцевому підсумку призводить до вирівнювання цих струмів Jдіф .= Jдр.
і встановлення в об'ємі кристала електричного і термодинамічної
рівноваги. p>
Щільність струму
дифузії: Jдіф. =-QnD (dn/dx). P>
Щільність струму
дрейфу: Jдр. =